Wafer晶圓表面顆粒缺陷檢查燈UV-85
UV-85Y高照度晶圓LED檢查燈；晶圓顆粒缺陷檢查燈；Wafer表面檢查燈
wafer晶圓顆粒缺陷檢查燈UV-85系列是一款黃綠光表面檢查燈（或者是白光），檢測(cè)燈的原理利用適合的LED燈源，通過(guò)光學(xué)鏡片折射出特殊波長(zhǎng)的光源，照在工件表面折射出光路，使得操作員肉眼可識(shí)別出工件表面的灰塵、刮痕、毛刺、凹凸、油墨等瑕疵點(diǎn)，取代傳統(tǒng)的照明設(shè)備和光學(xué)系統(tǒng)機(jī)臺(tái)，直接通過(guò)照明光線和肉眼，觀測(cè)出一般玻璃表面、部件表面的瑕疵，極大的節(jié)省了一般工廠的采購(gòu)成本。UV-85-Y黃綠光檢查燈采用人眼最敏感510-590NM之間波長(zhǎng)光，來(lái)做最簡(jiǎn)單與明確的判別，可精確檢查到1um以下的刮痕或微粒子，并且具有綠光和黃光2種顏色的復(fù)合光，幾乎可檢測(cè)出所有塵埃，大大降低產(chǎn)品不良率。使用壽命為2萬(wàn)小時(shí)以上。光源強(qiáng)度可達(dá)15萬(wàn)LX，最小可以檢測(cè)1μ的表面臟污，比傳統(tǒng)的檢查燈，效用增強(qiáng)10倍.。（注意：UV-85系列檢查燈的亮度最高只有15萬(wàn)LX ;如果有更高的測(cè)試要求請(qǐng)使用UV-89和UV-86系列的檢查燈，UV-86亮度最高有30萬(wàn)LX,UV-89的最高亮度是40萬(wàn)LX）(底部有視頻講解)。
wafer晶圓顆粒缺陷檢查燈UV-85參數(shù)規(guī)格
型號(hào)：UV-85Y高照度晶圓LED檢查燈；晶圓顆粒缺陷檢查燈；Wafer表面檢查燈
光 源：20W 高亮度進(jìn)口LED加定制的光學(xué)鏡片； LED平均壽命是30000小時(shí)
照度：距離40cm → 9萬(wàn)lx；距離30cm → 15萬(wàn) lx（我們掌握了核心技術(shù)，我們可以提供不同照度的平行燈，它們可滿(mǎn)足不同客戶(hù)的要求）
照射面積： 8-16cm直徑的光圈 在40cm的距離（通過(guò)調(diào)焦距調(diào)光）
調(diào)光方式： 無(wú)極調(diào)光：從0% ~ 100%；消耗功率：20 W
電源：采用110-220V電源供電（交流供電），可以24小時(shí)持續(xù)無(wú)間斷工作。
平行光強(qiáng)的穩(wěn)定性： > 90 ％
產(chǎn)品尺寸：53 * 220mm; 凈重： 0.53KG(不含配件
| 產(chǎn)品型號(hào) | UV-85-W白光晶圓檢查燈 | UV-85-Y黃綠光晶圓檢查燈 | 備注 |
| LED的數(shù)量和規(guī)格 | 1個(gè)進(jìn)口20W 6000K LED 加定制的光學(xué)透鏡和定制濾光片 | 可以按照客戶(hù)的要求定制 | |
| 通常6000K白光，510-590NM黃綠光；有特殊要求的可以定制365NM;455NM;595NM;625NM的波長(zhǎng) | |||
| 檢查燈的波長(zhǎng) | 6000K 白光 | 510-600NM黃綠光 | |
| 檢查燈的亮度 |
8萬(wàn)LX→距離40cm；
15萬(wàn)LX→距離30cm； |
9萬(wàn)LX→距離40cm；
15萬(wàn)LX→距離30cm； |
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| 我們掌握了核心技術(shù)，我們可以 提供不同照度的檢查燈，它們可滿(mǎn)足不同客戶(hù)的要求 | |||
| 照射面積（單位MM） | ? 8- 16cm 在40cm的距離 | ||
| 調(diào)光方式 | 無(wú)極調(diào)光：通過(guò)調(diào)光器0-100%調(diào)光； | ||
| 使用壽命 | 30000小時(shí) | ||
| 尺寸和凈重 | 53 *220mm; 凈量：1180克不包含配件 | ||
| 可選配件 | 防護(hù)眼鏡 | ||
UV-85晶圓顆粒wafer缺陷檢查燈特點(diǎn)
1.1個(gè)大功率20W LED,.真正冷光源，亮度達(dá)到15萬(wàn)LX;照度相當(dāng)100瓦的汞燈
2.LED使用壽命高達(dá)3萬(wàn)個(gè)小時(shí);壽命是汞燈的10倍
3.使用定制的光學(xué)透鏡和濾光片，檢查燈的均勻性能達(dá)到90%以上；
產(chǎn)品的光均勻性及光斑大小，經(jīng)檢測(cè)證實(shí)效果要優(yōu)于日、德同類(lèi)產(chǎn)品。
4.發(fā)黃綠光和白光，人眼易感知且又不傷眼，可精確檢查到10um以下的刮痕或微粒子；
5. 合理的外觀設(shè)計(jì)，，能提供均勻且高亮度特殊波長(zhǎng)和色溫的檢查光源；
6：可選擇不同波段光源：365NM,455NM,525NM,595NM,625NM,6000K可以任意選擇其中的一種波；
白光：刮傷以及對(duì)不同層次的鍍膜均勻或微污染有很好的效果。
綠光：微刮傷、粉塵異物、液晶玻璃，70%以上的表面不良都可以被檢出。尤其是表面的微刮傷。
黃光：微刻模具、半導(dǎo)體晶圓、藍(lán)寶石。對(duì)鍍膜檢查效果不錯(cuò)。
wafer晶圓顆粒缺陷檢查燈UV-85應(yīng)用
LCD濾光片、偏光板、晶圓、半導(dǎo)體、 玻璃或金屬表面刮痕及灰塵檢查、 液晶玻璃、微刻模具、半導(dǎo)體晶圓、藍(lán)寶石
